Nanoindentation in Kombination mit Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Während Neutronen tief in Materie eindringen, schädigen energetische Ionen das Material nur in einer µm-dünnen Oberflächenschicht. Die Nanoindentation ist ein geeignetes Instrument zur Untersuchung des mechanischen Verhaltens von dünnen Schichten. Sie stellt ein Bindeglied zwischen bestrahlungsinduzierten nm-skaligen Defekten und den resultierenden Eigenschaftsveränderungen dar. Das Prüflabor ist mit einem Prüfgerät zur registrierenden Nanohärtemessung und einem Atomkraftmikroskop (AFM) ausgestattet. Das AFM kann in Kombination mit dem Nanoindenter zur Abbildung der sub-µm großen Eindrücke oder separat betrieben werden.

Nanohärte-Prüfgerät (Universal nanomechanics tester - UNAT (ASMEC))

• Digitale Kraftauflösung <100 nN
• Digitale Wegauflösung <50 pm
• Grundrauschen der Kraftmessung <10 µN
• Grundrauschen der Wegmessung <1 nm
• Programmierbarer x-y-z-Tisch:
• Verfahrweg 200 mm x 50 mm x 50 mm
• Schrittweite 0,5 µm x 0,1 µm x 0,1 µm
• Tandem-Mikroskop (optisch)
• Berkovich-Indenter
• Einhausung mit thermischer Isolierung
• Aktive Schwingungsdämpfung

Atomkraftmikroskop Nanite B (Nanosurf)

• x-y-z-Scanbereich 110 µm x 110 µm x 20 µm
• Kontakt- und Dynamik-Mode