Instrumentenliste FWIZ-N
Liste unserer Anlagen für Materialmodifikationen, Bildgebung, analytische Methoden und Präparation.
Materialmodifikation
Instrument |
Funktion |
Ansprechpartner |
OrsayFIB |
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OrsayFIB - Foto: Nico Klingner |
HV-Anlage für fokussierte Ionenstrahlen:
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Nico Klingner Lothar Bischoff |
CANION FIB |
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CANION FIB - Foto: Nico Klingner |
HV-Anlage für fokussierte Ionenstrahlen:
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Lothar Bischoff Nico Klingner |
Orion NanoFab |
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Orion NanoFab Foto: Gregor Hlawacek |
Helium-Ionen-Mikroskop:
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Gregor Hlawacek |
NVision 40 |
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NVision 40 - Foto: Lothar Bischoff |
HV-Anlage für fokussierte Ionen- und Elektronenstrahlen:
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Lothar Bischoff |
Orion Plus |
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Orion Plus - Foto: Gregor Hlawacek |
Helium-Ionen-Mikroskop:
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Gregor Hlawacek |
HCI |
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HCI - Foto: Sascha Creutzburg |
UHV Experimentierkammer für hochgeladene Ionen:
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René Heller |
LEI |
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LEI Foto: Parminder Singh |
HV-Anlage für niederenergetische Ionenbestrahlung:
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Denise Erb |
Bildgebung
Instrument |
Funktion |
Ansprechpartner |
Olympus Ultra Objective |
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Olympus Ultra Objective Foto: Nico Klingner |
Rasterkraftmikroskop:
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Lothar Bischoff Gregor Hlawacek Nico Klingner |
Bruker Multimode 8 AFM |
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Bruker Multimode 8 AFM Foto: Parminder Singh |
Rasterkraftmikroskop:
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Denise Erb |
Omicron UHV AFM / STM |
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Omicron UHV AFM / STM Foto: Parminder Singh |
UHV Rasterkraft- / Rastertunnelmikroskop:
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Stefan Facsko |
Orion NanoFab |
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Orion NanoFab Foto: Gregor Hlawacek |
Helium-Ionen-Mikroskop:
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Gregor Hlawacek |
Orion Plus |
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Orion Plus - Foto: Gregor Hlawacek |
Helium-Ionen-Mikroskop:
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Gregor Hlawacek |
NVision 40 |
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NVision 40 - Foto: Lothar Bischoff |
HV-Anlage für fokussierte Ionen- und Elektronenstrahlen:
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Lothar Bischoff |
NanoSAM |
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NanoSAM - Foto: Denise Erb |
Elektronenmikroskopie im UHV:
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Denise Erb |
Analytik
Instrument |
Funktion |
Ansprechpartner |
TestFIB |
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TestFIB - Foto: Nico Klingner |
UHV Anlage zur Charakterisierung von LMAIS (Liquid Metal Alloy Ion Sources):
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Lothar Bischoff Nico Klingner |
NVision 40 |
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NVision 40 - Foto: Lothar Bischoff |
HV-Anlage für fokussierte Ionen- und Elektronenstrahlen:
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Lothar Bischoff |
Orion NanoFab |
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Orion NanoFab Foto: Gregor Hlawacek |
Helium-Ionen-Mikroskop:
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Gregor Hlawacek |
HCI |
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HCI - Foto: Sascha Creutzburg |
UHV Experimentierkammer für hochgeladene Ionen:
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René Heller |
Präparation
Instrument |
Funktion |
Ansprechpartner |
Spot Welder |
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Spot welder Foto: Lothar Bischoff |
Punktschweißgerät:
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Lothar Bischoff Wolfgang Pilz |
Etching Setup |
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Etching setup - Foto: Nico Klingner |
Ätzeinrichtung:
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Lothar Bischoff Wolfgang Pilz Nico Klingner |
Leica EM TXP |
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Leica EM TXP Foto: Nico Klingner |
Gerät zur mechanischen Präparation:
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Nico Klingner |
ArBlade 5000 CTC |
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ArBlade - FWIZ-N Instrument Foto: Nico Klingner |
HV-Gerät zum Fräsen mit Ionenstrahlen:
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Nico Klingner |
LMAIS Präparation |
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LMAIS Preparation Foto: Nico Klingner |
HV-Einrichtung zur Herstellung von LMAIS (Liquid Metal Alloy Ion Sources):
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Lothar Bischoff Wolfgang Pilz Nico Klingner |
Präparation
Instrument |
Funktion |
Ansprechpartner |
Spot Welder |
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Spot welder Foto: Lothar Bischoff |
Punktschweißgerät:
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Lothar Bischoff Wolfgang Pilz |
Etching Setup |
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Etching setup - Foto: Nico Klingner |
Ätzeinrichtung:
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Lothar Bischoff Wolfgang Pilz Nico Klingner |
Leica EM TXP |
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Leica EM TXP Foto: Nico Klingner |
Gerät zur mechanischen Präparation:
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Nico Klingner |
ArBlade 5000 CTC |
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ArBlade - FWIZ-N Instrument Foto: Nico Klingner |
HV-Gerät zum Fräsen mit Ionenstrahlen:
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Nico Klingner |
LMAIS Präparation |
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LMAIS Preparation Foto: Nico Klingner |
HV-Einrichtung zur Herstellung von LMAIS (Liquid Metal Alloy Ion Sources):
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Lothar Bischoff Wolfgang Pilz Nico Klingner |