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Titel
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Nano-Löcher: auf der Rasterkraftmikroskop-Aufnahme sieht man durch hochgeladene Ionen hervorgerufene Defekte in der Materialoberfläche. Jedes Nano-Loch entspricht dem Beschuss mit genau einem Ion.
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Beschreibung
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Nano-Löcher: auf der Rasterkraftmikroskop-Aufnahme sieht man durch hochgeladene Ionen hervorgerufene Defekte in der Materialoberfläche. Jedes Nano-Loch entspricht dem Beschuss mit genau einem Ion.
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Copyright
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Dr. El-Said
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Bild-Nr.
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37540
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Datum
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19.09.2012
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Downloads:
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