Navi-Edit

Methoden
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XRF
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REM
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MLA
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XRD
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EPMA
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Super-SIMS
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3D X-ray CT
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Ansprechpartner

Prof. Dr. Jens Gutzmer
Direktor &
Leiter der Abteilung Analytik

Tel.: 0351 260 - 4400

Dr. Axel Renno
Abteilung Analytik
Tel.: 0351 260 - 3274

Abteilung Analytik - Methoden

Geowissenschaftler*innen am Helmholtz-Institut Freiberg für Ressourcentechnologie ziehen mikroanalytische Methoden zur Lösung ganz unterschiedlicher Fragestellungen heran. Die Verfahren dienen dazu, chemische, kristallographische oder strukturelle Parameter in situ, also an Ort und Stelle, und nahezu zerstörungsfrei bei möglichst hoher Ortsauflösung zu bestimmen.


Übersicht der quantitativen und qualitativen Analyse-Methoden am HIF

Methode

Laterale Ortsauflösung

Nachweisgrenzen

Merkmale

Polarisations-
mikroskopie

10 - 30 µm  

schnell /
vorbereitend zur Lokalanalytik

Röntgen-Fluoreszenz-
analyse (XRF)

gering

2x10-5 - 1x10-6 g/g
(P - U)

schnell /
chemische Analyse

Rasterelektronen-
Mikroskopie (REM)

10 nm   Bildgebung

Mineral Liberation
Analysis (MLA)

1 µm

10-3 g/g
(B - U)

Mineralzusammensetzung / Mikrotextur

Pulver-Röntgen- diffraktometrie (XRD)

gering 0,2 - 3 %

Mineral- / Strukturzusammensetzung

Elektronensonden-
Mikroanalyse (EPMA)

0,5 µm

5x10-4 - 1x10-5 g/g
(Be - U)

hohe Ortsauflösung / Elementverteilung

Laser-ICP-MS

5 - 100 µm

10-5 - 1x10-8 g/g
(Li - U)

schnell /
sehr gute Nachweisgrenzen/
im Aufbau!

Super-Sekundärionen- Massenspektrometrie (Super-SIMS)

~ 5 x 5 µm2

~ 10-9 - 10-12 Atom/ Atom
(alle Elemente mit Ausnahme von Edelgasen)

Tiefenauflösung ~ 5 nm /
für Isotope

3D Röntgencomputer- tomografie

5 µm Voxelgröße  

3D-Bildgebung /
In-situ Scans

Probenpräparation