Instrumentenliste FWIZ-N
Liste unserer Anlagen für Materialmodifikationen(1), Bildgebung(2), analytische Methoden(3) und Präparation(4).
Materialmodifikation
Instrument |
Funktion |
Ansprechpartner |
OrsayFIB |
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OrsayFIB - Foto: Nico Klingner(5) |
HV-Anlage für fokussierte Ionenstrahlen:
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Nico Klingner(6) Lothar Bischoff(7) |
CANION FIB |
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CANION FIB - Foto: Nico Klingner(8) |
HV-Anlage für fokussierte Ionenstrahlen:
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Lothar Bischoff(9) Nico Klingner(10) |
Orion NanoFab |
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Orion NanoFab Foto: Gregor Hlawacek(11) |
Helium-Ionen-Mikroskop:
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Gregor Hlawacek(12) |
NVision 40 |
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NVision 40 - Foto: Lothar Bischoff(13) |
HV-Anlage für fokussierte Ionen- und Elektronenstrahlen:
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Lothar Bischoff(14) |
Orion Plus |
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Orion Plus - Foto: Gregor Hlawacek(15) |
Helium-Ionen-Mikroskop:
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Gregor Hlawacek(16) |
HCI |
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HCI - Foto: Sascha Creutzburg |
UHV Experimentierkammer für hochgeladene Ionen:
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René Heller(17) |
LEI |
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LEI Foto: Parminder Singh |
HV-Anlage für niederenergetische Ionenbestrahlung:
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Denise Erb(18) |
Bildgebung
Instrument |
Funktion |
Ansprechpartner |
Olympus Ultra Objective |
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Olympus Ultra Objective Foto: Nico Klingner(19) |
Rasterkraftmikroskop:
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Lothar Bischoff(20) Gregor Hlawacek(21) Nico Klingner(22) |
Bruker Multimode 8 AFM |
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Bruker Multimode 8 AFM Foto: Parminder Singh |
Rasterkraftmikroskop:
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Denise Erb(23) |
Omicron UHV AFM / STM |
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Omicron UHV AFM / STM Foto: Parminder Singh |
UHV Rasterkraft- / Rastertunnelmikroskop:
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Stefan Facsko(24) |
Orion NanoFab |
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Orion NanoFab Foto: Gregor Hlawacek(25) |
Helium-Ionen-Mikroskop:
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Gregor Hlawacek(26) |
Orion Plus |
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Orion Plus - Foto: Gregor Hlawacek(27) |
Helium-Ionen-Mikroskop:
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Gregor Hlawacek(28) |
NVision 40 |
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NVision 40 - Foto: Lothar Bischoff(29) |
HV-Anlage für fokussierte Ionen- und Elektronenstrahlen:
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Lothar Bischoff(30) |
NanoSAM |
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NanoSAM - Foto: Denise Erb(31) |
Elektronenmikroskopie im UHV:
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Denise Erb(32) |
Analytik
Instrument |
Funktion |
Ansprechpartner |
TestFIB |
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TestFIB - Foto: Nico Klingner(33) |
UHV Anlage zur Charakterisierung von LMAIS (Liquid Metal Alloy Ion Sources):
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Lothar Bischoff(34) Nico Klingner(35) |
NVision 40 |
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NVision 40 - Foto: Lothar Bischoff(36) |
HV-Anlage für fokussierte Ionen- und Elektronenstrahlen:
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Lothar Bischoff(37) |
Orion NanoFab |
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Orion NanoFab Foto: Gregor Hlawacek(38) |
Helium-Ionen-Mikroskop:
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Gregor Hlawacek(39) |
HCI |
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HCI - Foto: Sascha Creutzburg |
UHV Experimentierkammer für hochgeladene Ionen:
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René Heller(40) |
Präparation
Instrument |
Funktion |
Ansprechpartner |
Spot Welder |
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Spot welder Foto: Lothar Bischoff(41) |
Punktschweißgerät:
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Lothar Bischoff(42) Wolfgang Pilz |
Etching Setup |
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Etching setup - Foto: Nico Klingner(43) |
Ätzeinrichtung:
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Lothar Bischoff(44) Wolfgang Pilz Nico Klingner(45) |
Leica EM TXP |
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Leica EM TXP Foto: Nico Klingner(46) |
Gerät zur mechanischen Präparation:
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Nico Klingner(47) |
ArBlade 5000 CTC |
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ArBlade - FWIZ-N Instrument Foto: Nico Klingner(48) |
HV-Gerät zum Fräsen mit Ionenstrahlen:
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Nico Klingner(49) |
LMAIS Präparation |
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LMAIS Preparation Foto: Nico Klingner(50) |
HV-Einrichtung zur Herstellung von LMAIS (Liquid Metal Alloy Ion Sources):
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Lothar Bischoff(51) Wolfgang Pilz Nico Klingner(52) |
Präparation
Instrument |
Funktion |
Ansprechpartner |
Spot Welder |
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Spot welder Foto: Lothar Bischoff(53) |
Punktschweißgerät:
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Lothar Bischoff(54) Wolfgang Pilz |
Etching Setup |
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Etching setup - Foto: Nico Klingner(55) |
Ätzeinrichtung:
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Lothar Bischoff(56) Wolfgang Pilz Nico Klingner(57) |
Leica EM TXP |
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Leica EM TXP Foto: Nico Klingner(58) |
Gerät zur mechanischen Präparation:
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Nico Klingner(59) |
ArBlade 5000 CTC |
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ArBlade - FWIZ-N Instrument Foto: Nico Klingner(60) |
HV-Gerät zum Fräsen mit Ionenstrahlen:
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Nico Klingner(61) |
LMAIS Präparation |
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LMAIS Preparation Foto: Nico Klingner(62) |
HV-Einrichtung zur Herstellung von LMAIS (Liquid Metal Alloy Ion Sources):
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Lothar Bischoff(63) Wolfgang Pilz Nico Klingner(64) |
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